Sem ve Tem Arasındaki Farklar [Çözüldü]

1
Can (anonim)

Taramalı elektron mikroskop (sem) ile geçirimli elektron mikroskobu (tem) arasındaki numune hazırlama farklılıkları hakkında net bir bilgi mevcut mudur?

Fatih Kara düzenlenen soru
Soru kapandı, yeni yanıtlar kabul edilemez.

En iyi yanıt

0
Fatih Kara

TEM incelemeleri sadece katı olan (metal, seramik, polimer gibi) ve 3 mm çapında, yaklaşık 100μm kalınlığından numunelerin aşağıda verilen gereç ve yöntemler kullanılarak elektron geçirgenliğine inceltilmesi sonucu elde edilen örnekler üzerinde yapılabilir.

Hacimli katı numuneler: Bu tarzdaki numunelerin hazırlanabilmesi için yaklaşık 100 µm kalınlığında ve en az 4-5 mm genişliğinde ince şeritlerden 3 mm çapında diskler elde etmek için kullanılacak araçlar;
Disk Zımparalayıcı
Oyuklaştırıcı
Disk Zımbası
Elmas Kesici (Struers Accutom 50)

Kesit Numuneleri: örnek, ince film çalışmaları
Ultrasonik Disk Kesici
Kesit Oluşturma Alet Takımı veya Paketi

Elektron Geçirgenliğine inceltmek üzere kullanılan gereçler:
PIPS (Precision Ion Polishing System): metalik, seramik, polimerik malzemeler için uygundur
Electropolisher (Struers Tenupol 5 Twin-Jet Electropolisher): sadece metalik malzemeler için kullanılabilir

Hacimli formda olmayan numunelerin incelenmesi:
Çeşitli boyut ve fonksiyonda ızgaralar (grid),
örneğin; 400 kare ızgaralı Bakır grid, 100mesh/100mesh katlanır tipte Bakır grid, çok ince ızgaralı gridler, 1500 mesh ince bar gridler, 400 mesh Bakır grid üzerinde Holey Karbon Film, Square quantifoil 300 mesh,bakır grid , 150 mesh Berilyum Grid
Hacimli ince bir film oluşturmak üzere kullanilabilecek çeşitli solusyonlar (örnek, toz numune uygulamaları)
Örneğin; pioloform, formwar, butvar

Yardımcı Gereçler:
Ultrasonik Temizleyici
Steriomikroskop
Farklı türde cımbızlar

Özetle, hacimli formdaki tüm numunelerin ilk etapta 3 mm çapında diskler elde edebilmek için kullanilacak araçlar Disk Zımparalayıcı, Dimple incelticisi, Disk Zımbası ve Elmas Kesicidir. Bu disklerin elektron geçirgenliğine uygun hale getirilmeleri için bir sonraki aşama elektroparlatma veya iyon inceltici yöntemlerden biridir. Elektroparlatma yöntemi sadece iletken malzemelere uygulanabilirken, iyon inceltici yöntem iletken olmayan malzemelere de uygulanabilir. Hacimli formda olmayan numunelerin incelenmesinde ya numunelerin ızgaraya (grid) konularak incelenmeleri, ya da çeşitli ticari solusyonlara konulup bunlardan 3 mm çaplı numunelerin oluşturulması yöntemleri izlenir. Kesit numunelerinin hazırlanması ise ultrasonik kesici ve kesit paketi (cross-section kit) kullanılarak yapılabilir. Bu tarzda 3 mm çapında diskler olarak hazırlanan numunelerin daha sonra iyon incelticide elektron geçirgenliğine ulaştırılmaları gerekir.

Taramalı Elektron Mikroskobu’nda (SEM) sıvı olmayan ve sıvı özellik taşımayan her türlü iletken olan-olmayan numune incelenebilir. Her çeşit metaller, tekstiller, fiberler, plastikler polimerler, parçacıklar (kum, çakıl, polen..vs) incelenebilir. İletken olmayan numuneler çok ince (yaklaşık 3 Å/saniye) iletken malzemeyle kaplanarak incelenebilir hale getirilir. Biyolojik numuneler sıvı ihtiva edebilir bu tür malzemeleri inceleyebilmek için critical point drier sayesinde numunenin yapısı ve şekli bozulmadan kurutularak mikroskopta incelemeye elverişli hale getirilir. Hazırlık basamaklarından geçtikten sonra numune Elektron Mikroskobunda incelenmeye hazır hale
gelir. Numunenin yapısına göre değişmekte olan vakum süresi beklenir; bu süre ortalama 30dk.’dır.

Vakum süresi tamamlandıktan sonra numunenin yüzey şeklinin resmi alınabilir. Numunenin elementel analizini yapmak 3dk. sürer. Belirtmiş olduğum gibi bir numunenin incelenmesi yaklaşık bir saat sürmektedir.Ama bu süre tamamen numunenin yapısına bağlıdır.

Fatih Kara selected as best answer
0
Anonim

Semde kullanilan numune iletken olmasi lazim ama temde iletken ve iletken olmayan numune test edilebilir

Anonim yanıtlandı
0
Can (anonim)

Cevabınız için çok teşekkür ederim, çok yardımcı oldu gerçekten.

Can yanıtlandı
Question and answer is powered by AnsPress.io